[flash-extractor]性能测试Flash Extractor-芯片级数据恢复取证方案025-83608636

[flash-extractor]性能测试

英特尔至强 E5-2690 v3
12 核，24 线程，SSD
超线程 = 开
2 GB 转储
1 core = 7 m 31 s = x 1
2 cores = 4 m 06 s = x 1.8
3 cores = 3 m 03 s = x 2.5
4 cores = 2 m 25 s = x 3.1
5 cores = 1 m 58 s = x 3.8
6 cores = 1 m 44 s = x 4.3
7 cores = 1 m 30 s = x 5.0
8 cores = 1 m 18 s = x 6.3

i7-4790K
4 核
超线程 = 关闭
1 core - 59 min = x1
2 cores - 34 min = x1.7
3 cores - 25 min = x2,4
4 cores - 21 min = x2.8
只读/回写

只读模式。修复内存中的错误

将更正的扇区写入转储
ECC 修复

修复所有转储中的 ECC 错误
ECC 合并

如果 ECC 映射上存在未更正的错误，您可以在单独的文件夹中重新读取一个或所有转储。并
运行此过程以从新转储中取出好的扇区并将它们写入主转储。
文件夹 - 包含新转储的文件夹
修复输入 - 修复输入转储中的错误
修复主要- 修复主转储中的错误

ECC 重读
此操作删除

如果 ECC 图上有未更正的错误，可以多次重读芯片。好的读取扇区将被写入转储。
Chip -读卡器芯片数量
Banks -选择哪些 Banks 将被释放
Repeat -尝试次数
修复主要-修复主转储中的错误，如果之前没有这样做的话
我不建议使用此程序。较好使用 ECC 组合。在那里您可以在加入之前检查输入转储的质量。
因为内存芯片在接触不良或电压低的情况下会给出错误的数据或零。你的主要转储将被摧毁。
计算统计

将为您提供有关选定转储中红色和绿色扇区的信息

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